OBR4600｜10µm高分解能OFDR・光リフレクトメータ

OTDRでは見えない内部まで可視化する、超高分解能OFDRリフレクトメータ

Luna Innovations

製品説明	光ファイバや光部品内部を10μmの超高分解能で可視化できるOFDR（Optical Frequency Domain Reflectometry）方式の高性能リフレクトメータです。従来のOTDRでは検出が困難だった近接イベントや微小な損失・反射も、デッドゾーンなしで高精度に解析できます。挿入損失（IL）、リターンロス（RL）、分布損失、群遅延、偏波状態などを1台で測定でき、光部品の開発・品質評価からデータセンターや通信ネットワークの障害解析まで幅広く活用されています。最大2kmまでの短距離光ネットワークに対応し、フォトニック集積回路（PIC）、シリコンフォトニクス、光スイッチ、PLC、DWDM部品などの研究開発・製造現場で高い評価を得ています。さらに、オプションによりレイリー散乱を利用した分布型ひずみ・温度測定にも対応します。
特長	① 10μmの超高分解能　 OTDRでは識別できない近接イベントも個別に解析可能。　コネクタ、融着、光導波路、PIC内部まで可視化します。 ② ゼロデッドゾーン　反射点直後でも測定できるため、　光部品内部の損失・反射位置を正確に特定できます。 ③ OFDRならではの高感度測定　 80 dB ダイナミックレンジ　 -130 dB 高感度　 RL・IL同時解析　極めて微小な反射・損失まで検出できます。
用途	・光ファイバーアセンブリ評価・シリコンフォトニクス（PIC）評価・光導波路評価・光コネクタ評価・PLC・AWG評価・光スイッチ評価・データセンター配線解析・光ネットワーク故障解析・光ファイバー長・遅延測定・分布型ひずみ・温度センシング（オプション対応）

1.製品資料・カタログ

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光部品・シリコンフォトニクス（PIC）の評価

光導波路やPLC、AWG、光スイッチ、カプラなどの内部損失や反射をミクロンレベルで解析。設計評価から故障解析、歩留まり改善まで幅広く活用できます。

光ファイバ・光ケーブルの故障解析

コネクタ、融着接続、マクロベンド、微小破断などをデッドゾーンなしで正確に特定。短距離ネットワークやデータセンター配線、光モジュール内部のトラブルシュートに最適です。

③ 光部品・光ケーブルの製造品質検査

製造ラインで挿入損失・リターンロスを高精度に測定し、自動合否判定や品質保証を実現。量産時のばらつき評価や工程改善にも利用されています。

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