ファイバ端面干渉計-VFIシリーズ

光ファイバ端面の平坦度・端面品質・角度を高精度に評価する干渉計測システム

測定器・計測器・装置

Arden Photonics

<特徴>	コンパクトサイズ：240 mm (W) x 240 mm (D) x 90 mm (H) 視野：・200 μm ・1200 µm maximum with x1.5, x2, x3 and x6 digital zoom ・2000 µm maximum with x1.5, x2, x3 and x6 digital zoom イメージセンサ：1/1.8 inch CMOS array, 12-bit, 6.4 MP 解像度：2076 x 2076, 2.4 µm square pixels 最大フレームレート：> 20 fps LED 波長：587 nm ファイバ端面の角度検査ファイバレーザなどのハイパワーアプリケーション向け

<特徴>

コンパクトサイズ：240 mm (W) x 240 mm (D) x 90 mm (H)
視野：
・200 μm
・1200 µm maximum with x1.5, x2, x3 and x6 digital zoom
・2000 µm maximum with x1.5, x2, x3 and x6 digital zoom
イメージセンサ：1/1.8 inch CMOS array, 12-bit, 6.4 MP
解像度：2076 x 2076, 2.4 µm square pixels
最大フレームレート：> 20 fps
LED 波長：587 nm
ファイバ端面の角度検査
ファイバレーザなどのハイパワーアプリケーション向け

1.製品資料・カタログ

お問い合わせ

製品情報

VFI（Interferometric Inspection System）は、Arden Photonicsが開発した光ファイバ端面検査用の干渉計測システムです。光ファイバの劈開面や研磨端面を非接触で観察し、表面品質、平坦度、端面角度を高精度に評価します。フラット端面・角度付き端面の両方に対応し、自動測定機能や高画質イメージング、ユーザー校正機能を搭載。研究開発、製造、品質保証まで幅広い用途で活用され、精密クリーバの開発・保守、レーザ製造、医療機器製造、特殊光ファイバ製造などに最適な干渉検査システムです。

アプリケーション

光ファイバ劈開品質評価
光ファイバ端面検査
光ファイバ研磨品質評価
精密クリーバ開発
クリーバ保守・校正
レーザ製造
医療機器製造
光デバイスピグテール加工
特殊光ファイバ製造
LDFクリーバ開発・保守
光ファイバエンドキャップ製造
角度付きクリーバ開発
光ファイバ研究開発
光ファイバ製造工程管理
品質保証（QA/QC）

光ファイバ端面を非接触で高精度検査
フラット端面・角度付き端面の両方に対応
干渉縞による端面品質・平坦度評価
自動測定機能により検査時間を短縮
高画質CMOSカメラによる鮮明な画像取得
3種類の視野サイズ（200µm・1200µm・2000µm）をラインアップ
Arden・Fujikura・AFLホルダーに対応
研究開発・製造・品質保証で幅広く活用
USB3.0接続・Windows対応
ユーザー校正機能を搭載

製品資料・カタログ

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